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令和7年9月22～25日、千葉大学西千葉キャンパスにて開催されました第76回コロイドおよび界面化学討論会において、総合医理工学研究科総合医理工学専攻物質創成科学分野3年生久保 圭さん（工学部物質化学科　酒井俊郎研究室所属）が、若手口頭講演賞を受賞しました。

受賞しました研究発表は、「陽電子消滅寿命分光法によるカーボン系ナノ細孔体のサブナノ細孔構造解析」（連名者：信州大学　大塚 隼人、古瀬 あゆみ、佐伯 大輔、林 卓哉、酒井 俊郎、金子 克美）となります。陽電子消滅寿命分光（ PALS ）法 は、シリカ系多孔体や分離膜などのサブナノスケールの細孔構造の解析に用いられてきました。一方で電気自動車のストレージなどの電極材料として、より高性能化するために、カーボン材料のサブナノスケール構造評価の需要が高まってきています。本研究では、PALS法をカーボン材料のサブナノ細孔構造評価にも適用できるように、単層カーボンナノチューブ( SWCNT )を標準試料として用い、X線回折法(XRD)を参照して、PALS法による細孔構造決定のために必要なオルソポジトロニウムとカーボンの電子雲との衝突に関係する、重要なパラメータδを決定しました。カーボン材料におけて決定されたこのパラメータδを用いて、カーボン系ナノ細孔体のサブナノ細孔構造を解析し、アルゴン吸着法から得られる細孔構造情報とは異なる新しい細孔情報がPALS法では得られることを本研究は明らかにしました。PALS法を用いたカーボン材料の新たなサブナノ細孔構造解析方法として高く評価されました。
https://pub.confit.atlas.jp/ja/event/colloid2025/content/award