装置紹介

3次元高分解能X線顕微鏡　

機種

Xradia 620 Versa

原子分解能分析電子顕微鏡

機種

JEM-ARM200F NEOARM

ダブル球面収差補正付透過電子顕微鏡

機種

JEM-2100F

走査型透過電子顕微鏡

機種

HD-2300A

複合ビーム加工観察装置

機種

JIB-4610F

電界放出型走査電子顕微鏡

機種

SU8000

リモート対応型電子線マイクロアナライザー

機種

JA-iHP2000F

光電子分光装置

機種

Quantera Ⅱ

オージェ電子顕微鏡

機種

JAMP-9510F

レーザーラマン分光装置

機種

InVia Reflex

飛行時間型二次イオン質量分析装置

機種

DF.SIMS5-ADSD-1

試料水平型強力X線回析装置

機種

SmartLab 9K

ナノインデンター

機種

TI-950

CVDダイヤモンド合成装置

精密触媒制御ナノカーボン合成・分析装置

トリプルラマン分光装置

機種

T64000MW/vis-NIR