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装置紹介
用途ごとに各種メーカーの設備・機器を取り揃えております。
貸出しやご利用相談などお気軽にお問い合わせください。
電子顕微鏡
3次元高分解能X線顕微鏡
機種
Xradia 620 Versa
原子分解能分析電子顕微鏡
機種
JEM-ARM200F NEOARM
ダブル球面収差補正付透過電子顕微鏡
機種
JEM-2100F
走査型透過電子顕微鏡
機種
HD-2300A
複合ビーム加工観察装置
機種
JIB-4610F
電界放出型走査電子顕微鏡
機種
SU8000
分光・表面分析
リモート対応型電子線マイクロアナライザー
機種
JA-iHP2000F
光電子分光装置
機種
Quantera Ⅱ
オージェ電子顕微鏡
機種
JAMP-9510F
レーザーラマン分光装置
機種
InVia Reflex
質量分析
飛行時間型二次イオン質量分析装置
機種
DF.SIMS5-ADSD-1
X線回析
試料水平型強力X線回析装置
機種
SmartLab 9K
機械特性
ナノインデンター
機種
TI-950
合成支援など(登録装置以外)
CVDダイヤモンド合成装置
精密触媒制御ナノカーボン合成・分析装置
トリプルラマン分光装置
機種
T64000MW/vis-NIR
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