信州大学

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基盤分析・高度解析部門

基盤的分析手法(高解像度の電子顕微鏡分析や化学分析など)から高度データ解析(スペクトル分析など)を行っています。信州大学の設備を多くの方々にご活用いただきます。これらの分析が新たな発見を生み、産業化を進展させると考えるからです。まだ見ぬナノ材料が一つでも生み出され、無数の材料片の分析がイノベーション創出への意欲となることを期待します。


研究目標
・分析技術を活用した研究所内外との共同研究を行う。
  基盤的な分析手法について,学内へ周知する努力を続けるとともに,本学設置の機材についてその分析能力を向上する。
 研究所内外の研究セミナーなどを通じて共同研究の推進を図る。
・学外に対して『マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)』による支援を行う。
 
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メンバー