第4回機器分析基礎セミナー「蛍光顕微鏡の原理と応用」のお知らせ
2017.05.16 講習会第4回 機器分析基礎セミナー
「蛍光顕微鏡の原理と応用」
演者
末永 佳代子氏
カールツァイスマイクロスコピー株式会社
日時
平成29年6月1日(木) 16:00~17:30
場所
松本キャンパス 旭総合研究棟3階
基盤研究支援センター機器分析支援部門 小会議室
内容
本セミナーでは、蛍光顕微鏡の基礎から最新のトピックまでご紹介します。
セッションごとに質疑応答の時間を設け、皆様方の疑問にお答えします。
1.蛍光顕微鏡の原理
2.共焦点レーザスキャン顕微鏡の原理と応用
3.共焦点レーザスキャン顕微鏡のアプリケーション(基礎編 応用編)
4.共焦点レーザ顕微鏡を使いこなすために知っておきたい事
(S/Nの良い画像 撮影スピード 分解能)
5.超解像検出器Airyscanの効果的な使い方
参加予約
必要ありません。当日、会場にお越しください。