イベント・公開講座詳細

ARECプラザ 第117回リレー講演会ご案内
［画像処理・光学分野］

■日時：2010年10月21日（木）15:00～18:00

■場所：AREC（上田市産学官連携支援施設） 4Ｆ

■内容：
（講演1）15：00～16：00
演題 『画像処理による欠陥検査のための各種フィルタリングテクニック』
講師：信州大学工学部　情報工学科　助教　白井　啓一郎 氏

（講演2）16：00 ～17：00
演題 『ディスプレイの色はどこまで鮮やかになればいいのか？』
講師：セイコーエプソン株式会社　技術開発本部　コア技術開発センター　主任　金井　政史 氏

（講演3）17：00～18：00
演題 『プリント配線板の外観検査について』
講師：日置電機株式会社　技術本部　ATE部　技術8課長　松井　隆一 氏

■受講料：無料　※終了後に講師を交えて交流会開催（参加費無料）

◆詳細・お申込につきましては、こちらをご覧ください↓
http://arecplaza.jp/skins/mysite/upfile/next_relay117.pdf

●お申込・お問合せ先：
ARECプラザ事務局　Tel：0268-21-4377
企業名、所属・役職、お名前、連絡先を明記のうえ、
メール（mousikomi@arecplaza.jp） またはFAX（0268-21-4382）でお申込ください。