装置一覧
X線光電子分光装置（XPSまたはESCA）
アルバックファイ QuanTeraⅡ
表面電子状態分析支援
基本仕様
分析可能元素：Li~U
分析面積：最少75μm～mmオーダー
分析深さ：数nm
試料サイズ：75mm×75mm×20mm
イメージング
科学状態
概要・用途
試料にX線を照射し試料内部から放出される光電子のエネルギーを測定することにより、試料極表面の元素組成、化学結合状態の解析を得意とします。本拠点のXPSには、単色化AIアノード及びAr+イオンを同時に用いる中和銃が備え付けられており、高感度かつ容易に元素組成／化学結合状態の解析が可能となります。
表面改質効果、異種元素ドープ効果を検証することにより分散技術の開発、さらにはコンポジットやコーティングの技術開発等への応用が期待されます。