装置一覧

環境制御型電子顕微鏡

日本電子JEM2100ベース

反応解析支援

基本仕様

加速電圧:~200kV
雰囲気ガス圧: ~90kPaまで
温度:~1000℃まで

概要・用途

本装置は、ガス環境調整機能を備え、ガス貫流高温加熱ホルダ先端の試料室のガス環境を精緻に制御し、In-Situでナノカーボン等の成長過程や原子レベルの構造変化を直接観察できる環境制御型透過電子顕微鏡です。
ガス環境・試料加熱下で試料観察を行うための専用のTEM用ホルダ(写真右上)を用いて、その先端には着脱可能なシーリングブロックが取り付けられ、その内部には隔膜型ガス雰囲気試料室(EC)を取り込むことができるとともに、ワイヤヒータを組み込み、試料を~90kPaの任意のガス雰囲気中で1500℃まで加熱することができます。

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