ナノテクノロジープラットフォーム事業は令和3年度で終了し、 新たに「マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)」事業に移行しました。
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装置一覧

ダブルCs透過型電子顕微鏡

日本電子JEM-2100F

高分解能観察支援

基本仕様

球面収差補正装置:EM-Z07167T 2段つき
加速電圧:80~200kV
分析機能:EELS、EDS

概要・用途

日本電子JEM-2100FにCEOS社の収差補正装置を照射系と結像系に備えた装置です。
炭素材料に特化させるために加速電圧を80kVに下げた状態で運用しています。これによりナノ炭素材料の六員環の配列を観察することが可能となっています。
EDS、EELSといった元素・化学分析用の装置も備えており、微小領域の元素分析が可能です。

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