国立大学法人信州大学 基盤研究支援センター機器分析支援部門上田分室

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トピックス

2021年8月24日

【お知らせ】SEM 利用不可 SEM temporarily unavailable

不具合発生により、走査電子顕微鏡(SEM)は当面利用できません
大変ご迷惑をおかけいたしますが、ご理解ご了承のほどどうぞよろしくお願い申し上げます

SEM is temporarily unavailable due to mechanical failure
We are very sorry for the inconvenience caused