国立大学法人信州大学 基盤研究支援センター機器分析支援部門上田分室

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トピックス

2021年8月25日

【お知らせ】SEM 利用可能になりました SEM become available

不具合発生により利用停止になっていた走査電子顕微鏡(SEM)は利用可能になりました
ご協力どうもありがとうございました

Since the mechanical failure has been fixed, SEM has become available
Thank you for your cooperation