国立大学法人信州大学 基盤研究支援センター機器分析支援部門上田分室

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トピックス

2020年7月30日

【お知らせ】透過型電子顕微鏡(JEM-2100)の新規講習再開のお知らせ

透過型電子顕微鏡(JEM-2100)の新規講習につきまして、新型コロナウイルス感染拡大防止のため5月より
見合わせてきましたが、希望者とご相談の上、対応を始めます。

しかしながら、TEM室は部屋も狭く、講習も長くなることが多いため、新規ユーザーの講習は極力減らす方針です。
(目安として各研究室で2名程度)

新規ユーザーで講習を希望の方は、いちど管理者までご連絡ください。
その後、メール等で試料について詳しく伺い、短時間で講習ができそうな場合は行います。
できないと判断した場合は、各研究室でTEMを利用できる方に観察を依頼してください。
(該当する方がいない場合は、管理者による観察も検討しますので、ご相談ください)

新規講習希望者がいる研究室は、以下に留意してご連絡下さい。
1、研究室名、教員のアドレス
2、代表者の名前、学年、学籍番号、電話番号(居室内線電話など)
3、講習希望者名、学年、学籍番号
4、サンプルについて
 (例:金属酸化物の結晶(シート状・粒子状)で、格子像を観察したい。)
 (例:Φ200nm程度のナノファイバー(不織布)についた10nm程度の
  金属微粒子が観察したい)

連絡先 技術部 篠塚 wmakiko@shinshu-u.ac.jp