装置一覧
高分解能透過型電子顕微鏡（TEM）
High resolution ｔransmission electron microscope
ナノカーボン材料の作製分野
基本仕様
【装置】JEM-2010 ELECTRON MICROSCOPE（JEOL）
【最高加速電圧】最大200kV
【最小分解能】0.11nm
【評価に適した試料】ナノ粒子等
概要・用途
・ナノメートルスケールまで拡大観察することができます。
・観測された電子線回折パターンに基づき、結晶構造を推測できます。
・EDS分析より、微小な電子線照射領域の組成を解析できます。