| 工学基礎 | |
| 教育プログラム | 時間割 |
| 機器分析 |
| Instrumental Analysis |
| 担当教官 | 藤松 仁 他 |
| 科目の分類・単位数 | 専門科目II(選択)・２単位 |
| 開講期 | ４年前期 |
| 授業の目標： 材料を扱う者にとって主要な機器分析法をとりあげる．原理を中心とする基礎理論について論じ，測定法，測定例まで講義する．近年，機器分析の発展はめざましく，様々な物性を測定することができるようになってきている．どのような原理に基づいて何が測定できるかについて学ぶことを目標とする． |
| 授業内容および計画： 1. 放射線安全教育（高須・杉本） 2. ＸＲＤ（高須・杉本） 3. 分光分析（藤松・宇佐見） 4. ＮＭＲ・MS (1)（藤松・宇佐美） 5. ＮＭＲ・MS (2)（藤松・宇佐美） 6. 表面分析 (1)（村上） 7. 表面分析 (2)（村上） 8. 吸着測定（村上） 9. 元素分析（山田･福長） 10. 電気化学測定（山田・福長） 11. 熱分析（高橋） 12. 散乱測定（高橋） 13. クロマトグラフ（藤松） 14. 力学的測定（藤松） |
| 履修条件 | 「分光学」（３年後期）を修得していること． |
| 教科書 | 用いない． |
| 参考書 | 泉美治他著「機器分析の手引き」化学同人． 庄野利之他著「入門機器分析化学」三共出版． |
| 成績評価の方法 | 授業への出席とレポートに基づいて評価する． |
| 学生へのメッセージ | 材料を扱うものにとって機器分析は必須である． それぞれの手法に関して得意な先生が講義するので 積極的に受講してほしい． |
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