測定・分析評価設備
各種の汎用測定・分析評価設備を用意し、参画機関による共同利用やレンタル利用ができるようにします。
スーパーコンピュータシステム
信州大に導入されたスーパーコンピュータシステム
アクア・イノベーション拠点のために導入されたのは、富士通製の「PRIMERGY RX100 S8」16台によるPCクラスタと、スーパーコンピュータ「PRIMEHPC FX10」を組み合わせたシステムです。これにより、従来は処理性能的に困難だったナノカーボン膜の複雑な解析やシミュレーションが可能になりました。個別の機器の性能は以下の通りです。
| システムの構成 | 計算ノード数 | 全コア数 | 総メモリ容量 （バイト） | 理論演算性能 （フロップス） |
|---|---|---|---|---|
| PRIMEHPC FX10 （スーパーコンピュータ） |
12 | 192 | 384Giga | 2.5Tera |
| PRIMERGY RX100 S8 （PCクラスタ） |
16 | 256 | 4,096Giga | 6.7Tera |
共用の測定・分析評価設備
カーボン膜の評価や加工などに向け、35種類の測定・分析装置が新たに導入されましたが、このうち一部の機器が共用として関係機関や企業などに開放されます。
飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）
ICP質量分析装置
Auger分析装置
共用機器リスト
ご利用いただける共用機器は下のとおりです。
| No. | 品名 | 規格 | 一般利用者機器使用料 （税込） | 写真 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | ICP質量分析装置 | アジレント・テクノロジー G3663A/100 Agilent 8800 ICP-QQQ standard model |
学内利用のみ |  |
| 2 | 微小領域機械特性評価装置 | オミクロン・ナノテクノロジー・ジャパン ナノインデンテーション ハイジトロン トライボインデンター TI-950 |
5,500円／ｈ |  |
| 3 | 低圧細孔径分布測定装置 | 米国Porous Materials社 リキッドポロメーター LLP-1200A |
8,800円／ｈ |  |
| 4 | ナノサイズ細孔径分布測定装置 | 西華産業 ナノパームポロメーター TNF-2W-100 |
8,800円／ｈ |  |
| 5 | ガスクロマトグラフ 質量分析計 |
米国ブルカー・ダルトニクス社 SCION SQ(456-GC)-SH GC/MS |
6,000円／ｈ |  |
| 6 | 高速イオンクロマトグラフ | 島津製作所 Prominence イオン分析システム HIC-SPNS |
6,000円／ｈ |  |
| 7 | 試料水平型強力X線回析装置 | SmartLab ﾘｶﾞｸ | 8,800円／ｈ |  |
| 8 | ガス透過率測定装置 | ジーエルサイエンス システムガスクロマトグラフ GTME-2520(等圧法) |
6,000円／ｈ |  |
| 9 | 複合ビーム加工観察装置 | 日本電子 JIB-4610F ピックアップシステム付 |
11,000円／ｈ |  |
| 10 | オージェ電子顕微鏡 | 日本電子 フィールドエミッションオージェマイクロプローブ JAMP-9510 |
8,800円／ｈ |  |
| 11 | 飛行時間型二次イオン質量分析装置 | 独国ION-TOF社 TOF.SIMS5-ADSD-100 |
11,000円／ｈ |  |
| 12 | 自動接触角計 | 協和界面科学 DM-701M |
4,000円／ｈ |  |
| 13 | カーボンコーター | メイワフォーシス CADE-E/HSM 親水化処理機能付 |
4,000円／ｈ |  |
| 14 | 自動精密切断機 | 日本電子 アイソメット 11-1280-001 |
4,000円／ｈ |  |
| 15 | レーザラマン分光装置 | 堀場製作所 LabRAM HR evolution OS |
お問い合わせください |  |
| 16 | 比抵抗/ホール測定システム | 東陽テクニカ 8400ACLR/OW型 |
お問い合わせください |  |
| 17 | 高出力マイクロ波プラズマCVD装置 | コーンズテクノロジー社 AX6350 |
お問い合わせください |  |
| 18 | 大気圧プラズマ装置 | 長野日本無線 NJZ-2820 XYステージ付 |
お問い合わせください |  |
| 19 | 精密触媒制御ナノカーボン合成・分析装置 | ULVAC CMS-50 |
お問い合わせください |  |
| 20 | X線電子分光分析装置 | アルバックファイ QuanTeraⅡ |
お問い合わせください |  |
利用料金
利用料金は、下のとおりです。
| 使用者 | 利用料 | 操作料（技術サポート） | 試料作製 | 解析料 |
|---|---|---|---|---|
| 一般利用者 （学外研究所、企業等） |
共用機器リスト参照 | 3,300円／ｈ | 5,500円／ｈ | 5,500円／ｈ |
| 当センター内 レンタルスペース入居者 |
1,080円／ｈ | 3,300円／ｈ | 5,500円／ｈ | 5,500円／ｈ |
| 学内者 （学内教職員） |
1,080円／ｈ | 機器による （要問い合わせ） |
機器による （要問い合わせ） |
機器による （要問い合わせ） |
・初回利用時は、機器専門員の立会必須のため、操作料（技術サポート料）が必ず発生します。
・全て税込価格です。
利用申請・お問い合わせ
利用をご希望の場合は、「利用申請書（学内者用）」、「利用申請書（学外者用）」いずれかへご記入の上、PDFにて下記のメールアドレスへ送信ください。
また、その他問い合わせにつきましても、下記のメールアドレスまでお願いいたします。
なお、整備中等により、使用できない場合もございますので、あらかじめご了承ください。
利用申請書送付・お問い合わせ先
メールアドレス coi_info@shinshu-u.ac.jp
その他、長野（工学）キャンパスでご利用になれる共用機器
＜研究基盤共用事業＞
http://www.shinshu-u.ac.jp/institution/icst/kyoyo/equip/
＜ナノテクノロジー・プラットフォーム事業＞
http://www.shinshu-u.ac.jp/institution/icst/nano/equip/