透過型電子顕微鏡システム

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・細胞を形成するナノスケールオーダの物質の構造解析のため、分解能は粒子像0.3nm以下、格子像0.1nm。

・高倍率・高解像度（2K×2K）と広範囲（1K×1.3K）のDualCCDカメラで観察可能。

・傾斜試料ホルダー使用でTEM及びSTEM像の3次元立体画像取得と解析可能。

・生体構成元素分析（ホウ素からウラン）までの範囲可能。

・高角度環状検出器（HAADF）を備え、Zコントラストによる暗視野像観察可能。

・凍結薄切試料観察可能。

・損失エネルギー（EELS）による数nmオーダの局所元素分析、軽元素分析、化学結合状態解析が可能。

規格	日本電子　JEM-2100F
利用料金（円）	非営利組織：980/時間営利組織　：3,600/時間

・分解能は粒子像0.38nm格子像、0.2nm。

・低倍から高倍まで高コントラストで高品質な像が得られます。

・デジタルCCDカメラ（Gatan社）。

・3次元立体画像取得と解析可能。

規格	日本電子　JEM-1400
利用料金（円）	非営利組織：980/時間営利組織　：3,600/時間

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信州大学　研究推進部研究支援課
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