透過型電子顕微鏡


装置 透過型電子顕微鏡
できること 高分解観察、電子線回折
メーカー JEOL
機種名 JEM2010
使用開始年月日 1994年
特徴 ポールピースのギャップが小さい(URP)。
加速電圧：200ｋV
EDSがついていて元素分析可能（軽元素可）。

ウルトラミクロトーム、ナイフメーカー