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機器紹介

機器分析部門設置機器

透過型電子顕微鏡システム

分析透過型電子顕微鏡

・細胞を形成するナノスケールオーダの物質の構造解析のため、分解能は粒子像0.3nm以下、格子像0.1nm。

・高倍率・高解像度(2K×2K)と広範囲(1K×1.3K)のDualCCDカメラで観察可能。

・傾斜試料ホルダー使用でTEM及びSTEM像の3次元立体画像取得と解析可能。

・生体構成元素分析(ホウ素からウラン)までの範囲可能。

・高角度環状検出器(HAADF)を備え、Zコントラストによる暗視野像観察可能。

・凍結薄切試料観察可能。

・損失エネルギー(EELS)による数nmオーダの局所元素分析、軽元素分析、化学結合状態解析が可能。

規格 日本電子 JEM-2100F
利用料金(円) 2,500/h

汎用透過型電子顕微鏡

・分解能は粒子像0.38nm格子像、0.2nm。

・低倍から高倍まで高コントラストで高品質な像が得られます。

・デジタルCCDカメラ(Gatan社)。

・3次元立体画像取得と解析可能。

規格 日本電子 JEM-1400
利用料金(円) 2,000/h

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信州大学 研究推進部研究支援課
TEL: 0263-37-3528 FAX: 0263-37-3049

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